繪制宗地草圖時，視地籍細(xì)部測量的方法、宗地面積的大小、已有的圖件資料情況，確定如何丈量邊長。地籍細(xì)部測量有解析法、部分解析法、圖解勘丈法三種，不同的情況對宗地草圖要求不同，所需勘丈的數(shù)據(jù)也不同。

　　解析法地籍測量時：對于較大宗地界址邊長較長的，不需丈量相鄰界址點(diǎn)間距，界址邊長可以采用坐標(biāo)反算；對小宗地相鄰界址點(diǎn)間距必須丈量；記錄界址邊的直角和平角條件；界址點(diǎn)與相鄰地物的關(guān)系距離、建筑物周邊長等可選擇性地丈量。

　　部分解析法地籍測量時：對于采用解析法測定坐標(biāo)的界址點(diǎn)的大宗地，且界址邊長較長的，不需丈量相鄰界址點(diǎn)間距，界址邊長可以采用坐標(biāo)反算；對于小宗地相鄰界址點(diǎn)間距必須丈量；記錄界址邊的直角和平角條件；對于不是用解析法測定坐標(biāo)的界址點(diǎn)都必須勘丈相鄰界址點(diǎn)間距；界址點(diǎn)與相鄰地物的關(guān)系距離及建筑物周邊長等可選擇性地丈量。

　　圖解勘丈法地籍測量時：相鄰界址點(diǎn)間距、幾何條件、界址點(diǎn)與相鄰地物的關(guān)系距離必須丈量，建筑物周邊長等可選擇性地丈量。