【學(xué)員問題】建筑物細部點的極坐標(biāo)測量方法？

　　【解答】極坐標(biāo)法適用于測設(shè)點靠近控制點，便于量距的地方。用極坐標(biāo)法測定一點的平面位置時，系在一個控制點上進行，但該點必須與另一控制點通視。根據(jù)測定點與控制點的坐標(biāo)，計算出它們之間的夾角(極角β)與距離(極距S)，按β與S之值即可將給定的點位定出。如圖4-6中，M、N為控制點，即已知M、N之坐標(biāo)和MN邊的坐標(biāo)方位角αMN。現(xiàn)在要求根據(jù)控制點M測定尸點。首先進行內(nèi)業(yè)計算，按坐標(biāo)反算方法，求出M到P的坐標(biāo)方位角αMP和距離S。計算公式如下：

　　β=αMN-αMP (4-20)

極坐標(biāo)放線圖

　　在實地測定P點的步驟：將經(jīng)緯儀安置于M點上，以MN為起始邊，測設(shè)極角β，定出MP之方向，然后在MP上量取S，即得所求點P。

　　當(dāng)不計控制點M的誤差，用極坐標(biāo)法測定P之點位中誤差mP，可按下式進行計算：

　　(4-21)

　　式中 mβ——測設(shè)β角度的中誤差;

　　S——控制點至測定點的距離;

　　ms——測定距離S的中誤差。

　　以上內(nèi)容均根據(jù)學(xué)員實際工作中遇到的問題整理而成，供參考，如有問題請及時溝通、指正。